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  • 和伍超聲掃描顯微鏡 裝置整機尺寸750mm(長)×700mm(寬)×1350mm(高)◕₪•│。安裝方案基於空間佔用最小化和維護/服務條件需要☁₪◕✘,保證在裝置周圍留有500mm的空間☁₪◕✘,可以方便工作人員進行操作✘☁│、維護◕₪•│。
  • 和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像裝置☁₪◕✘,主要利用高頻超聲波☁₪◕✘,對各類半導體器件✘☁│、材料進行檢測☁₪◕✘,能夠檢測出樣品內部的氣孔✘☁│、裂紋✘☁│、夾雜和分層等缺陷☁₪◕✘,並以圖形的方式直觀展示◕₪•│。在掃描過程中☁₪◕✘,不會對樣品造成損傷☁₪◕✘,不會影響樣品效能☁₪◕✘,可有效滿足新能源✘☁│、半導體✘☁│、電力電子✘☁│、熱管理材料✘☁│、金剛石複合材料✘☁│、碳纖維複合材料等行業需求◕₪•│。
  • 日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料✘☁│、化學✘☁│、新材料✘☁│、半導體器件的觀察和分析◕₪•│。
  • 日本電子掃描電鏡 ✘☁│、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔✘☁│、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡◕₪•│。
  • 日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能☁₪◕✘,讓您從光學顯微鏡的觀察方式☁₪◕✘,輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察◕₪•│。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析◕₪•│。
  • 掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描☁₪◕✘,透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱◕₪•│。懸臂和樣品始終保持接觸☁₪◕✘,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下☁₪◕✘,掃描樣品表面的模式◕₪•│。這是Z典型的AFM模式☁₪◕✘,可以得到目前Z高解析度影象◕₪•│。懸臂在諧振頻率附近震動◕₪•│。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化◕₪•│。
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