和伍超聲掃描顯微鏡 裝置整機尺寸750mm（長）×700mm（寬）×1350mm（高）◕₪•│。安裝方案基於空間佔用最小化和維護/服務條件需要☁₪◕✘，保證在裝置周圍留有500mm的空間☁₪◕✘，可以方便工作人員進行操作✘☁│、維護◕₪•│。

和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像裝置☁₪◕✘，主要利用高頻超聲波☁₪◕✘，對各類半導體器件✘☁│、材料進行檢測☁₪◕✘，能夠檢測出樣品內部的氣孔✘☁│、裂紋✘☁│、夾雜和分層等缺陷☁₪◕✘，並以圖形的方式直觀展示◕₪•│。在掃描過程中☁₪◕✘，不會對樣品造成損傷☁₪◕✘，不會影響樣品效能☁₪◕✘，可有效滿足新能源✘☁│、半導體✘☁│、電力電子✘☁│、熱管理材料✘☁│、金剛石複合材料✘☁│、碳纖維複合材料等行業需求◕₪•│。

日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料✘☁│、化學✘☁│、新材料✘☁│、半導體器件的觀察和分析◕₪•│。

日本電子掃描電鏡 ✘☁│、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔✘☁│、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡◕₪•│。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能☁₪◕✘，讓您從光學顯微鏡的觀察方式☁₪◕✘，輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察◕₪•│。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析◕₪•│。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描☁₪◕✘，透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱◕₪•│。懸臂和樣品始終保持接觸☁₪◕✘，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下☁₪◕✘，掃描樣品表面的模式◕₪•│。這是Z典型的AFM模式☁₪◕✘，可以得到目前Z高解析度影象◕₪•│。懸臂在諧振頻率附近震動◕₪•│。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化◕₪•│。