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X射線熒光鍍層測厚儀
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700▩╃↟：本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量·╃，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計·╃，帶有聚焦光點的準直器·╃，高解析度的探測系統·╃，眾多Z佳條件的選擇·╃，保證測試結果的準確性╃↟·•◕。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用·╃，提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件·╃，無損☁╃、快速和更準確的特點·╃，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障╃↟·•◕。
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700 華唯
配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口 |
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700產品指標▩╃↟：
測厚技術▩╃↟：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類▩╃↟：金屬鍍層·╃，合金鍍層
測量下限▩╃↟：0.003um
測量上限▩╃↟：30-50um（以材料元素判定）
測量層數▩╃↟：10層
測量用時▩╃↟：30-120秒
探測器型別▩╃↟：Si-PIN電製冷
探測器解析度▩╃↟：149eV
高壓範圍▩╃↟：5-50Kv·╃，50W
X光管引數▩╃↟：5-50Kv·╃，50W·╃，側窗類；
光管靶材▩╃↟：Mo靶；
濾光片▩╃↟：鍍層濾光片
CCD觀察▩╃↟：260萬畫素
微移動範圍▩╃↟：XY15mm
輸入電壓▩╃↟：AC220V·╃，50/60Hz
測試環境▩╃↟：非真空條件
資料通訊▩╃↟：USB2.0模式
準直器▩╃↟：Ø0.5mm
軟體方法▩╃↟：FlexFP-Mult
工作區▩╃↟：開放工作區 自定義
樣品腔▩╃↟：70*20mm
整機重量▩╃↟：38kg
UX-700產品介紹▩╃↟：
本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量·╃，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計·╃，帶有聚焦光點的準直器·╃，高解析度的探測系統·╃，眾多*條件的選擇·╃，保證測試結果的準確性╃↟·•◕。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用·╃，提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件·╃，無損☁╃、快速和更準確的特點·╃，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障╃↟·•◕。
Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺·╃，可以透過滑鼠的點選操作·╃，選擇樣品的多點測試·╃，特別適應於細小結構多種不同鍍層材料的測試╃↟·•◕。
Ux-700鍍層測厚儀具有高畫質晰☁╃、高放大倍數的攝像裝置·╃，測試樣品的部位清楚明瞭·╃，同時攝像裝置拍抓測試部位的圖片·╃，和測試資料結果一同出現在測試報告中╃↟·•◕。
Ux-700鍍層測厚儀採用了華唯技術FlexFp -Multi·╃，不在受標準樣品的限制·╃，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度╃↟·•◕。
UX-700 鍍層測厚方法▩╃↟：
1.磁性塗層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵☁╃、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度·╃，如鐵上鍍銅☁╃、鋅☁╃、鉻☁╃、金☁╃、銀等·╃，塗的油漆☁╃、塑膠☁╃、橡膠☁╃、磷化膜☁╃、玻璃鋼等╃↟·•◕。
2.渦流層層測厚法
可以測量非導磁導電金屬上面非導電塗層的厚度·╃，如不鏽鋼☁╃、銅☁╃、鋁金屬上的油漆層☁╃、氧化膜☁╃、磷化膜☁╃、玻璃鋼☁╃、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分☁╃、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試·╃，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例╃↟·•◕。
常用單位▩╃↟：
微米（um）·╃，微英寸（u‘’）俗語“邁”·╃，密耳（mil）
1um=39.4邁·╃， 1um=0.04mil