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X射線熒光鍍層測厚儀
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720•☁：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀₪╃☁▩，採用高解析度的Si-PIN（或者SDD矽漂移探測器）₪╃☁▩，測量精度和測量結果業界*│╃。 採用了FlexFP-Multi技術₪╃☁▩，無論是生產過程中的質量控制₪╃☁▩，還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢₪╃☁▩，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求│╃。
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720 華唯
配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
產品指標•☁：
測厚技術•☁：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類•☁：金屬鍍層₪╃☁▩，合金鍍層
測量下限•☁：0.003um
測量上限•☁：30-50um（以材料元素判定）
測量層數•☁：10層
測量用時•☁：30-120秒
探測器型別•☁：Si-PIN電製冷
探測器解析度•☁：145eV
高壓範圍•☁：0-50Kv₪╃☁▩，50W
X光管引數•☁：0-50Kv₪╃☁▩，50W₪╃☁▩，側窗類；
光管靶材•☁：Mo靶；
濾光片•☁：3種自動切換；
CCD觀察•☁：260萬畫素
微移動範圍•☁：XY15mm
輸入電壓•☁：AC220V₪╃☁▩，50/60Hz
測試環境•☁：非真空條件
資料通訊•☁：USB2.0模式
準直器•☁：Ø1mm₪╃☁▩，Ø2mm₪╃☁▩，Ø4mm
軟體方法•☁：FlexFP-Mult
工作區•☁：開放工作區 自定義
樣品腔•☁：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹•☁：
Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀₪╃☁▩，採用高解析度的Si-PIN（或者SDD矽漂移探測器）₪╃☁▩，測量精度和測量結果業界│╃。
採用了FlexFP-Multi技術₪╃☁▩，無論是生產過程中的質量控制₪╃☁▩，還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢₪╃☁▩，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求│╃。
Ux-720微移動平臺和高畫質CCD搭配₪╃☁▩，旋鈕調節設計在殼體外部₪╃☁▩，觀察移動位置簡單方便│╃。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用₪╃☁▩，提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件₪╃☁▩，無損◕│••▩、快速和更準確的特點₪╃☁▩，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障│╃。
Ux-720鍍層測厚儀採用了華唯技術FlexFp -Multi₪╃☁▩，不在受標準樣品的限制₪╃☁▩，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度₪╃☁▩，測試結果經得起科學驗證│╃。
樣品移動設計為樣品腔外部調節₪╃☁▩，多點測試時移動樣品方便快捷₪╃☁▩，有助於提升效率│╃。
設計更科學₪╃☁▩，軟硬體配合₪╃☁▩，機電聯動₪╃☁▩，輻射安全高於國標GBZ115-2002要求│╃。
軟體操作具有操作人員分級管理許可權₪╃☁▩，一般操作員◕│••▩、主管使用不同的使用者名稱和密碼登陸₪╃☁▩，測試的記錄報告同時自動新增測試人的登入名稱│╃。
Ux-720標準配件
樣品固定支架1支
視窗支撐薄膜•☁：100張
保險管•☁：3支
計算機主機•☁：品牌+雙核
顯示屏•☁：19吋液晶
印表機•☁：噴墨印表機
Ux-720可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現全自動一鍵操作功能₪╃☁▩，準直器自動切換₪╃☁▩，濾光片自動切換₪╃☁▩，開蓋隨意自動停₪╃☁▩，樣品測試照片自動拍照◕│••▩、自動儲存₪╃☁▩，測試報告自動彈出₪╃☁▩，供應商資訊自動篩選和儲存