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UX-720 X射線熒光鍍層測厚儀

X射線熒光鍍層測厚儀

  • 型   號•☁:UX-720
  • 價   格•☁:

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720•☁:Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀₪╃☁▩,採用高解析度的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器)₪╃☁▩,測量精度和測量結果業界*│╃。 採用了FlexFP-Multi技術₪╃☁▩,無論是生產過程中的質量控制₪╃☁▩,還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢₪╃☁▩,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求│╃。

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X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720  華唯

 

   配置型號

探測器

X光管

高壓電源

Ux-720 M

AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

上海科頤維(國產)

咸陽威思曼(國產)

Ux-720 H

AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

上海科頤維(國產)

spellman(進口)

Ux-720 S

AMPTEK SDD X-123(進口)

上海科頤維(國產)

spellman(進口)

 

產品指標•☁:

測厚技術•☁:X射線熒光測厚技術

測試樣品種類•☁:金屬鍍層₪╃☁▩,合金鍍層

測量下限•☁:0.003um

測量上限•☁:30-50um(以材料元素判定)

測量層數•☁:10層

測量用時•☁:30-120秒

探測器型別•☁:Si-PIN電製冷   

探測器解析度•☁:145eV

高壓範圍•☁:0-50Kv₪╃☁▩,50W

X光管引數•☁:0-50Kv₪╃☁▩,50W₪╃☁▩,側窗類;

光管靶材•☁:Mo靶;

濾光片•☁:3種自動切換;

CCD觀察•☁:260萬畫素

微移動範圍•☁:XY15mm

輸入電壓•☁:AC220V₪╃☁▩,50/60Hz

測試環境•☁:非真空條件

資料通訊•☁:USB2.0模式

準直器•☁:Ø1mm₪╃☁▩,Ø2mm₪╃☁▩,Ø4mm

軟體方法•☁:FlexFP-Mult

工作區•☁:開放工作區 自定義

樣品腔•☁:330×360×100mm

 

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹•☁:

    Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀₪╃☁▩,採用高解析度的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器)₪╃☁▩,測量精度和測量結果業界│╃。

    採用了FlexFP-Multi技術₪╃☁▩,無論是生產過程中的質量控制₪╃☁▩,還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢₪╃☁▩,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求│╃。

    Ux-720微移動平臺和高畫質CCD搭配₪╃☁▩,旋鈕調節設計在殼體外部₪╃☁▩,觀察移動位置簡單方便│╃。

    X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用₪╃☁▩,提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件₪╃☁▩,無損◕│••▩、快速和更準確的特點₪╃☁▩,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障│╃。

    Ux-720鍍層測厚儀採用了華唯技術FlexFp -Multi₪╃☁▩,不在受標準樣品的限制₪╃☁▩,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度₪╃☁▩,測試結果經得起科學驗證│╃。

    樣品移動設計為樣品腔外部調節₪╃☁▩,多點測試時移動樣品方便快捷₪╃☁▩,有助於提升效率│╃。

    設計更科學₪╃☁▩,軟硬體配合₪╃☁▩,機電聯動₪╃☁▩,輻射安全高於國標GBZ115-2002要求│╃。

    軟體操作具有操作人員分級管理許可權₪╃☁▩,一般操作員◕│••▩、主管使用不同的使用者名稱和密碼登陸₪╃☁▩,測試的記錄報告同時自動新增測試人的登入名稱│╃。

 

Ux-720標準配件

樣品固定支架1支

視窗支撐薄膜•☁:100張

保險管•☁:3支

計算機主機•☁:品牌+雙核

顯示屏•☁:19吋液晶

印表機•☁:噴墨印表機

 

Ux-720可選配件

可升級為SDD探測器

    可以實現全自動一鍵操作功能₪╃☁▩,準直器自動切換₪╃☁▩,濾光片自動切換₪╃☁▩,開蓋隨意自動停₪╃☁▩,樣品測試照片自動拍照◕│••▩、自動儲存₪╃☁▩,測試報告自動彈出₪╃☁▩,供應商資訊自動篩選和儲存 

 

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